賽默飛雙束全自動原位樣品制備新品發(fā)布

提供來源:上海百賀日期：2019年11月28日

在剛結(jié)束的“第十屆中國聚焦離子束技術(shù)及學(xué)術(shù)研討”上，新一代的Therno Scientific™ Helios™ 5 DualBeam™ 精彩亮相。賽默飛FIB產(chǎn)品經(jīng)理Mikhail Dutka 為大家講述了Fully Automated In-Situ Sample Preparation with New Generation Helios 5 DualBeam(全新 Helios 5 雙束全自動原位樣品制備)。

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使用聚焦離子束制備薄 S/TEM 樣品仍被視為一項具有挑戰(zhàn)性的任務(wù)，需要高水平的專業(yè)知識、長時間的培訓(xùn)時間和操作員的獨特技能。新一代 Helios 5 DualBeam 與 AutoTEM 5 相結(jié)合，可實現(xiàn)從粗切到原位提取、減薄和終低 kV 拋光的全自動過程，實現(xiàn)高質(zhì)量的薄片樣品制備過程。它設(shè)計可靠適用于各種困難的材料。在完全自動化模式下，薄片樣品可以在45分鐘無人值守的情況下快速制備。

Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn)：高的材料對比度，快、簡單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久經(jīng)考驗的性能基礎(chǔ)上，新一代的 Helios 5 DualBeam 進(jìn)行了改進(jìn)優(yōu)化，所有這些都旨在確保系統(tǒng)處于手動或自動工作流程的佳運(yùn)行狀態(tài)。這些改進(jìn)包括：

一、更易于使用

Helios 5 是所有體驗級別用戶容易使用的 DualBeam。操作員培訓(xùn)可以從幾個月縮短到幾天，系統(tǒng)設(shè)計可幫助所有操作員在各種應(yīng)用程序上實現(xiàn)一致、可重復(fù)的結(jié)果。

二、提高了生產(chǎn)率

Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的自動化功能，增強(qiáng)的穩(wěn)健性和穩(wěn)定性允許無人值守甚至夜間操作，顯著提高樣品制備通量。

三、改善時間和結(jié)果

Helios 5 DualBeam 現(xiàn)在包括 FLASH，這是一種調(diào)整圖像的新概念。對于傳統(tǒng)的顯微鏡，每次操作員需要獲取圖像時，通過迭代對中仔細(xì)調(diào)整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡單手勢將激活 FLASH，將自動調(diào)整這些參數(shù)。自動調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡化高質(zhì)量圖像的采集。