2019年全國電子顯微學學術年會于10月15日-19日在合肥舉辦。屆時，針對前述需求，賽默飛世爾科技會分享一系列解決方案，保證讓您眼前一亮。從掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)系列產品到配套的軟件系統，賽默飛旨在幫您攻克研究過程中較為挑戰的難題。無論是化學分析、元素分析、機械分析或電子分析，賽默飛的高分辨率成像和分析工具都將滿足您所有的精度要求。

在即將到來的電鏡年會上，我們將進行一系列現場演示和展位展示，分享行業的解決方案。激動人心的一周活動主要包括：

大會期間，8場演示，讓您深度了解賽默飛新一代電鏡解決方案，包括：Spectra S/TEM, ColorSEM技術, 新一代多源等離子體FIB技術，加裝雙X射線能譜儀的掃描透射電鏡，和生命科學領域全新自動化冷凍透射電鏡、冷凍斷層掃描、單顆粒分析技術。

為感謝各位顯微工作者的兢業奉獻，我們還將于10月16日-18日每天中午在會議酒店舉辦午餐會。屆時，我們將發布幾個新的解決方案，其一將有助于加快當前的病理認知和藥物研發進程，其二將促進材料在原子水平上的結構表征，其三是能從電鏡圖像中快速獲取更多數據的新方法。請持續關注，拭目以待。

讓您全方面觸及領域前沿，現場演示將紛至沓來，囊括Amira和Avizo軟件演示等。