從電子手表到電腦再到各類移動通信產品，我們不難發現電子電器產品已經和我們的生活息息相關了。而我們消費者對產品質量越來越高的要求，使得各個生產廠家不得不嚴格把控產品質量，對產品或生產過程中出現的異物甚至異常顏色進行分析，進而確定來源，優化產品質量。異物分析也是失效分析的一種，通過分析和驗證，找出失效的原因，挖掘出失效的機理。微小異物的尋根探源，在提高產品質量、技術開發和改進、產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

對于異物或異色的分析，由于待分析的異物樣品較小，顯微紅外法的優勢得以體現。紅外顯微鏡是用光學顯微鏡觀察微小樣品，再把紅外光路引入到顯微鏡中，調節可變光闌的大小，選擇測試樣品中的某一微區，紅外光聚焦后，進行紅外分析。島津紅外顯微鏡AIM-9000，可實現330倍連續放大，大范圍廣角相機快速尋找異物點，自動識別異物位置，同時能做到異物光譜自動分析、自動對焦，在測量的同時觀測測量位置，確保異物點測量位置零偏移。

樣品1：手機鏡頭上的白色異物。
將異物取出，放在金剛石池中壓制后，置于紅外顯微鏡下，透過法測試。

樣品2：PCB板焊錫位置異物。
無需前處理，樣品直接放置在紅外顯微鏡下，反射法測試。

上圖中，紅色譜圖為鏡頭異物的紅外譜圖，黑色譜圖為SKIN（皮屑）的紅外譜圖，兩圖在多處出峰位置一致，峰強度比值基本一致，推斷異物為皮屑，可能是人員操作過程中引入。

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