電子顯微鏡可分為掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)兩大類，在實際測試中常常遇到一些難以解決的問題，以下是透射電鏡(TEM)與掃描電鏡(SEM)在測試中的一些常見問題。

        透射電鏡簡單分類

        透射電鏡根據產生電子的方式不同可以分為熱電子發射型和場發射型?熱電子發射型用的燈絲主要有鎢燈絲和六硼化鑭燈絲；場發射型有熱場發射和冷場發射之分?

        根據物鏡靴的不同可以分為高傾轉?高襯度?高分辨和分辨型?

        TEM要液氮才能正常操作嗎

        不同n能譜探頭,TEM液氮冷卻并不是的,但它有助于樣品周圍的真空度,也有助于樣品更換后較快地恢復操作狀態?

        磁性粒子做電鏡的注意事項?

        1.磁性粒子做電鏡需要很謹慎?

        2.分散劑可以用表面活性劑,但是觀察的時候會有局部表面活性劑在電子束輻照下分解形成污染環,妨礙觀察?

        水熱法制備的材料如何緣緹?

        水熱法制備的材料容易含結晶水,在電子束的輻照下結構容易被破壞,試樣在電鏡的高真空中過夜,有利于去掉部分結晶水?估計你跟操作的老師說了,他就不讓你提前放樣品了?

        TEM磁偏轉角是怎么一會事,而又怎樣去校正磁偏轉角

        一般老電鏡需要校正磁偏轉角,新電鏡就不用做了?現在的電鏡介紹中都為自動校正磁偏轉角?

        分子篩為什么導電?

        分子篩的情況應該跟硅差不多吧?純硅基本不導電,單硅原子中的電子不像絕緣體中的電子束縛的那么緊,少量的電子也會因電子束的作用而脫離硅原子,形成少量的自由電子?留下電子的空穴,空穴帶有正電,起著導電作用?

        電子衍射圖譜中都會發現有一個黑色的影子,是指示桿的影子,影子的一端指向衍射中心?為什么要標記出這個影子在衍射圖譜中呢?

        beam stopper主要為了擋住過于明亮的中心透射斑,讓周圍比較弱的衍射斑也能清晰的顯現?

        電子衍射時可否用自動曝光時間,若手動曝光.多少時間為宜?

        電子衍射不能用自動曝光,要憑經驗?一般11或16秒,如果斑點比較弱,要延長曝光時間?

        高分辨的粉末樣品需要多細?

        做高分辨的粉末樣品,就是研磨得很細?肉眼分辨不了的顆粒?幾十個納米已經不算小了?顆粒越小,越有可能找到邊緣薄區做高分辨,越有利于能損譜分析；顆粒越大,晶體越容易傾轉到晶帶軸(比如做衍射分析),X-光的計數也越高?

        電鏡燈絲的工作模式?

        鎢或LaB6燈絲在加熱電流為零時,其發射電流亦為零?增加加熱電流才會有發射電流產生,并在飽和點后再增加加熱電流不會過多地增加發射電流?沒有加熱電流而有發射電流,實b上就是冷場場發射的工作模式?但這也需要很強的引出電壓(extraction voltage)作用在燈絲的?

        透射電鏡能否獲得三維圖象?

        可以做三維重構,但需要特殊的樣品桿和軟件?

        在拍照片時需要在不同的放大倍數之間切換,原先調好的聚光鏡光闌往往會在放大倍數改變后也改變位置,也就是光斑不再嚴格同心擴散,為什么?

        這很正常,一般做聚光鏡光闌對中都是在低倍(40K)做,到了高倍(500K)肯定會偏,因為低倍下對中不會對的很準?

        能量過濾的工作原理是什么?

        能量過濾像的工作原理簡單的可以用棱鏡的分光現象來理解,然后選擇不能能量的光來成像? 能量過濾原理是不同能量(速度)電子在磁場中偏轉半徑不一樣(中學時經常做的那種計算在羅倫茨力作用電子偏轉半徑的題),那么在不同位置上加上一個slit,就這樣就過濾出能量n?

（資料來源于網絡- 分析測試百科網）