微分干涉襯度顯微技術（簡稱DIC）是一種觀察具有微小高度差的形貌的光學顯微技術，這項技術將顯微鏡的垂直分辨率提高到納米級。它和相襯技術相似，都是將試樣表面微小高度差造成的光程差轉變為人眼及感光材料所能感受到n強度差，從而提高了顯微組織細節間的襯度，便于識別，但是其原理有所不同。由于此項技術使被觀察試樣組織有很強的立體感和鮮艷的色彩，因此在金相學、晶體學、集成電路、陶瓷和高分子材料、生物和醫學等許多領域發揮了重大作用。