電子探針EPMA X光電子能譜儀XPS 輝光放電光譜儀GDS

全部 拉伸壓縮彎折 金相巖相分析 光譜元素分析 硬度強(qiáng)度試驗(yàn) 環(huán)境模擬試驗(yàn) 無損檢測(cè)NDT 尺寸測(cè)量 粗糙度測(cè)量 輪廓測(cè)量 圓柱度測(cè)量 沖擊/破裂 磨耗/摩擦 彎折/扭轉(zhuǎn) 流變/粘度 重量/密度 固體表面測(cè)量 精密零部件檢測(cè) 制樣設(shè)備 超聲探傷 化合物鑒定 張力測(cè)試 圖像分析 橡膠削皮 食品分析檢測(cè) 生物制藥 熱重分析 表面分析 PT/普愛納米位移平臺(tái)

全部 金屬 非金屬 橡膠 塑料 薄膜 膠黏劑 太陽能 電子 汽車 紡織 皮革 線纜 陶瓷 涂料 地質(zhì) 混凝土 不限 高分子 食品 制藥 生物

全部 德國徠卡 德國蔡司 奧林巴斯 日本尼康 日本島津 美國PE 美國OGP 美國力可 德國ZWICK 臺(tái)灣EKTRON 美國Thwing-Albert 德國Brabender 上海東華 萊州華銀 美國沃伯特 日本三豐 美國標(biāo)樂 美國威爾遜 英國寶禾 德國KB 日本FT 海克斯康 美國尼通 德國斯派克 英國牛津 德國OBLF 英國阿朗 意大利GNR 北京納克 德國溫澤 愛德華 德國布魯克 美國熱電 丹麥司特爾 萊州蔚儀 美國杜邦 英國泰勒 德國馬爾 東京精密 日本日立 日本Kosaka 廣東萬濠 美國STARRETT 英國LK 德國Hildbrand 意大利GIBITRE 美國EDAX 美國FEI 英國Quorum 德國ELTRA 美國FARO 日本電子 美國科視達(dá) 意大利AFFRI 美國MTS 江南永新 德國BINDER 美國GE 安捷倫 沃特世 美國戴安 德國迪賽克 德國賽卡姆 德國曼默博爾 德國Biochrom AB SCIEX 英國Isoprime 德國耶拿 韓國新科 英國可林化學(xué) 德國KARG 德國KRUSS 德國Bareiss 德國Argentox 英國馬爾文 瑞士萬通 英國Ascott（愛斯科） 日本JISC 荷蘭innovatest（軼諾） 安東帕 布魯克 捷克TESCAN 業(yè)納 RAY-RAN 施泰力 美國麥克 瑞士梅特勒托利多 美國Atlas 天氏歐森 DOLEE 其它 東立智能 韓國帕克 PT/普愛納米位移 一恒 弗爾德 加拿大Creaform 日本HIOKI