產品特性：掃描電子顯微鏡 JSM-7610F 用于材料和電子器件失效分析的微觀觀察,同時具有分辨率和大景深的特點,根據觀察效果不同,可選擇鎢燈絲電鏡和場發射電鏡.
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用于材料和電子器件失效分析的微觀觀察。
同時具有分辨率和大景深的特點。
根據觀察效果不同，可選擇鎢燈絲電鏡和場發射電鏡。
典型應用：
- 銅箔表面的形貌觀察，尤其是銅瘤的檢查；
- 銅箔毛面與粘結片樹脂剝離后的微觀形貌觀察；
- 焊點失效時，焊點合金層形貌；
- 鍵合不良時焊點的微觀形貌。
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為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數的說明，還為客戶提供不同品牌產品間的性能比較，給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機保修壹年。在質保期內，我們負責為用戶的設備提供免費維護、保養和免費更換損壞的零部件；
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