FEI掃描電鏡Q25
對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是經濟、高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數據。 

優點
簡單易猓詞故切率擲彌憊鄣娜砑墑迪指咝Р僮鰲Ⅻ/div>
快速輕松表征導電和非導電樣品樣品
制備工作減少化：低真空下可以對不導電無荷電成像和分析
支持可選的分析功能。利用多級穿過透鏡的真空系統在高真空和低真空下使導樣品和不導電樣品的EDS分析成為可能。
利用穩定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得分析結果。