徠卡DCM8用于無損三維表面輪廓形成。該儀器融合了共聚焦和干涉光學測量儀，因此具有這兩種技術的優越性：用于高橫向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡，可獲得亞納米級的垂直分辨率。這兩種技術對于在各種不同的研究和產品環境下，進行材料和零部件的表面分析都非常重要。由帶有高坡區域的錯綜復雜的結構制成的表面，要求數微米的橫向分辨率。與之相反，帶有臨界微型峰和谷的拋光超平滑表面，則要求納米尺度的縱向分辨率。

徠卡DCM8可以滿足用戶對表面測量的具體要求——共聚焦顯微鏡可使橫向分辨率高達140nm，輔之以干涉測量法，垂直分辨率可高達0.1nm。產品管理團隊行業的團隊領導人——Stefan Motyka說：“徠卡DCM8是一種通用的、準確的測量器，可以節省時間和成本：用戶不必交換儀器，就可以利用共聚焦和干涉測量技術，觀察和測量同一樣品——他們只需要一臺儀器。另外，顯微鏡的便捷設置和簡單操作，可以省時省力，非常快速、方便地提供結果。”

為了獲得高分辨率和高速度，徠卡DCM8采用了共聚焦掃描技術，無需移動傳感頭中的部件，從而提高了可重復性和穩定性。只需點擊鼠標，即可在兩種技術之間快速、簡單地切換。

瑞士溫特圖爾IMPE的Christof Scherrer說：“我們之所以決定購買徠卡DCM系統，是因為它可以用作光學顯微鏡，帶有明場、暗場和共聚焦以及三種干涉模式。對于像我們這樣的材料科學方面多元化的研究工作來說，靈活性是一項重要因素。”

除了使用不同技術用于觀察和分析之外，徠卡DCM8還是一種用于樣品的準確色彩存檔的理想儀器。高品質徠卡物鏡以及四個LED光源的多種選擇——藍色（460nm）、綠色（530nm）、紅色（630nm）和白色（中心550nm）——以及一個集成的CCD相機，提供逼真的彩色圖像。相機具有很大的視場——如果這還不夠，可以選擇XY地形拼接模式，以獲得較大面積的無縫、準確模型。直觀的軟件可以使用戶簡化復雜的3D和2D分析，完成符合具體需求的配置。