我們將探討如何區(qū)分反光(被視為金屬)顆粒與非反光顆粒(被視為非金屬)顆粒,以及如何識別纖維(非污染物顆粒)。我們將通過以下幾個步驟,將反光和非反光顆粒區(qū)分以及纖維識別引入整個技術(shù)清潔度檢測過程:
準(zhǔn)備階段:
檢測階段:
區(qū)分反光和非反光顆粒
金屬顆粒較硬,因此相較于非金屬顆粒,前者有可能造成更嚴(yán)重的損壞。
金屬和非金屬顆粒是通過其反射的入射光進行區(qū)分的。濾膜和非金屬顆粒上的入射光僅會發(fā)生漫反射。不論入射光如何,“反射”的光線都不會發(fā)生偏振。即使入射光發(fā)生偏振,在相機成像時也分析不到偏振效應(yīng)。濾膜始終比其上的顆粒更明亮。
入射光照射到金屬顆粒時,我們能夠觀察到真實的反射。(金屬表面的此種光線反射不會改變光的偏振。)可通過一種傳統(tǒng)的清潔度檢測方法展現(xiàn)這種差異。可在相機上分析反射光的偏振——當(dāng)起偏鏡和檢偏鏡設(shè)置為平行位置時,金屬顆粒會變得非常明亮。
傳統(tǒng)的金屬顆粒檢測方法需要采集兩幅圖像。第一幅圖像檢測出所有顆粒,第二幅圖像高亮顯示金屬顆粒。檢偏鏡在采集第二幅圖像前旋轉(zhuǎn) 90°。該步驟非常耗時,并且需要對兩幅圖像進行特殊調(diào)節(jié)和校準(zhǔn)。
帶有檢測出的所有顆粒并顯示為較暗圖像的濾膜。
帶有顯示為較亮圖像的金屬顆粒的濾膜。
全新的一次成像過程
奧林巴斯推出的CIX 技術(shù)清潔度檢測系統(tǒng)采用創(chuàng)新方法,僅需一次掃描即可完成數(shù)據(jù)采集。在此方法中,入射光束發(fā)生偏振。我們使用延遲色板改變偏振光光譜的一個波段;因此,入射光的顏色不同時,偏振也會不同。
濾膜上非金屬顆粒的漫反射與傳統(tǒng)方法中觀察到的情況相同。反射光在所有顏色范圍內(nèi)均不發(fā)生偏振,因此不需要進行分析。濾膜比其上的深色顆粒更明亮。
使用奧林巴斯 CIX 技術(shù)清潔度檢測系統(tǒng)觀察到的非金屬顆粒漫反射。
通過經(jīng)典原理,還會產(chǎn)生的金屬顆粒反射光,并保留光的偏振。但是,由于每種顏色的光的偏振是已知的,因此能夠在彩色圖像中直接檢測出金屬顆粒——金屬顆粒僅會在某種特定的顏色下變得明亮。
使用奧林巴斯 CIX 技術(shù)清潔度檢測系統(tǒng)觀察到的金屬顆粒真實反射。
使用 CIX 系統(tǒng),僅需一張彩色圖像,就能夠區(qū)分反光(金屬)和非反光(非金屬)顆粒。無需進行第二次圖像采集和旋轉(zhuǎn)檢偏鏡。此種獨特方法具有顯著的時間優(yōu)勢,并且無需移動和旋轉(zhuǎn)任何機械部件,因此可采用穩(wěn)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計。
纖維識別
顆粒是從樣品表面洗掉的雜質(zhì)。然而,纖維的來源往往不同——例如工作服、抹布或者實驗室中的灰塵。織物纖維通常不會對技術(shù)部件的功能產(chǎn)生重要影響。因此,在評估清潔度檢測時,應(yīng)該另行識別和計數(shù)。
纖維具有細(xì)長的形狀。長度與寬度之比被稱為纖維度,其處于 10:1 至 20:1 的范圍之內(nèi)(取決于所采用的標(biāo)準(zhǔn))。這意味著,纖維顯著拉長(相較于其他纖維測量,例如石棉檢測,在該項檢測中,每根纖維都像針一樣呈直線狀,但是其纖維度只有 3:1)。
濾膜上細(xì)長的可見纖維
濾膜上的纖維可能不會呈直線狀,而是呈卷曲狀。因此,較大卡尺直徑測量無法提供準(zhǔn)確的纖維長度測量結(jié)果。在第一次估算中,纖維長度可計算為其面積與其較大內(nèi)徑之比。如果假設(shè)纖維在整個長度上的寬度相同,則可以采用此方法。
左:卷曲的纖維及其較大卡尺直徑測量。 右:纖維的較大內(nèi)徑。
在測量纖維的面積后,對纖維長度進行更準(zhǔn)確的測量,然后計算展開后的纖維長度。
展開的纖維長度
我們通過探討如何區(qū)分反光(被視為金屬)顆粒與非反光顆粒(被視為非金屬)顆粒,以及如何識別纖維(非污染物顆粒),進一步認(rèn)識了清潔度檢測。接下來我們準(zhǔn)備檢查獲得的結(jié)果并創(chuàng)建數(shù)據(jù)報告。
聲明:文章旨在傳播應(yīng)用知識,內(nèi)容和圖片來源于網(wǎng)絡(luò),如涉版權(quán)問題請與我公司聯(lián)系,我們會快速度處理。
我們始終站在用戶的角度和立場考慮問題,與用戶互動式交流,為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶最中肯的購買建議。