偏光顯微鏡（配熱臺）XPN-40的介紹
偏光顯微鏡（配熱臺）XPN-40是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的實驗儀器。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動 P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏熔點測定儀通過 LED顯示溫度值及設定溫度值。

本儀器是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像，從而對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印。

偏光熔點測定儀
1、偏光熔點測定儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫 度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度 及在該段內可維持時間 ，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。

2、顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1；起始溫度室溫工作區加 熱使用面積至少1X1cm、工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC、透光區域 2mm以上，可調顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2；熱臺可以隨載物臺移動熔點測定；溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡。

偏光顯微鏡（配熱臺）
1、目鏡

2、 物鏡

3、放大倍數：40X 100X 400X 600X
4、聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡
5、起偏鏡：/動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
6、檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡
7、補償器：λ片（Ф18mm，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
8、調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
9、電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
10、防霉：防霉系統

電腦成像熱臺系統
1、三目偏光顯微鏡
2、熔點儀
3、CCD適配鏡
4、300萬USB型數字攝像器
5、圖像處理軟件

數碼成像熱臺系統
1、三目偏光顯微鏡
2、熔點儀
3、數碼相機專用適配鏡
4、數碼相機（NIKON）

偏光顯微鏡（配熱臺）XPN-40選購件
1、高像素成像系統　
2、偏光顯微鏡分析軟件