垂直雙觀測結構（DSOI）提升了靈敏度，同時降低了樣品基體效應
以一當二：炬管即可垂直又可水平放置的主機，可快速切換以滿足雙向觀測要求
ORCA光路結構：同時讀取130-770nm譜線信號，和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統相比，光強度信號提升可高達5倍，紫外/遠紫外區的提高靈敏度

SPECTRO ARCOS型等離子體發射光譜儀（ICP-OES）超越了當代工業和科研領域金屬、化學、石化、材料等行業元素分析的要求。

MultiView設計讓使用者可以在90秒內將垂直炬管“旋轉”成水平炬管，反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量，提高了靈敏度，降低了基體效應，兩全其美。

由CMOS組成的線性陣列檢測器，無需制冷，無溢出效應，可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號，檢測動態范圍更寬。

SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、產品壽命長的特點，使用成本很低。主機底座按照人體工程學設計，將無需吹掃的遠紫外密閉光路、風冷系統、智能閥切換（選件）、便攜式視頻裝置等多項斯派克與眾不同的技術集合在一起。