產品特性：德國徠卡離子研磨機EM TIC 3X用于制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡（SEM)、微觀結構分析（EDS、WDS、Auger、EBSD）和AFM科研工作.
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Leica EM TIC 3X 通過離子槍激發獲得的離子束，以垂直于樣品側面縱向轟擊樣品，可獲得高質量無應力“切割”截面，便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復合材料等高難度制備樣品，并且操作簡單，可避免涂抹效應，不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面，使樣品暴露內部細微結構信息。
主要技術參數：
· 可容納大樣品尺寸50×50×10mm，可獲得切割截面面積＞4mm×1mm
· 三把離子槍，離子束能量1keV-10keV，切割速率150μm/h (Si@10kV, 50μm切割高度)
· 離子束處理過程中樣品位置固定，無需偏轉運動，無投影效應，熱傳導性好
· 可進行離子束切割或刻蝕，可選擇任意離子槍
· 真空泵解耦合設計，無震動傳導
· 觸摸屏操作面板，直觀、簡易操作，可編程可軟件升級
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數的說明，還為客戶提供不同品牌產品間的性能比較，給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機保修壹年。在質保期內，我們負責為用戶的設備提供免費維護、保養和免費更換損壞的零部件；
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