產品特性：TESCAN掃描電鏡special products主要特點：內置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 電子束感生電流探頭,MIRA3 AMU 定制樣品室,電子束寫入模塊包（EBL)
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可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同時獲得SPM的信息！
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS)已經可以安裝在TESCAN 的LYRA3系列 （鎵離子源FIB-SEM）和新的FERA3（Xe等離子源FIB-SEM）。
TESCAN 在電子束感應電流/電阻(EBIC)的測量和面掃中加了一種新的方式。完全內置的EBIC探頭，可以快速便捷的實現所有軟件允許的應用功能。而且TESCAN 使用了納米探針作為新的EBIC探頭的連接方式。創新的方式使得3維EBIC分析成為了現實。
TESCAN公司提供可定制的超大等級的樣品室。
電子束寫入模塊（EBL) 是一款技術已經成熟的配件，它可以在納米級別上對指定的結構進行調整或修改。
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數的說明，還為客戶提供不同品牌產品間的性能比較，給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機保修壹年。在質保期內，我們負責為用戶的設備提供免費維護、保養和免費更換損壞的零部件；
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