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TESCAN掃描電鏡FERA3 GM

FERA3 GM

產(chǎn)品編號(hào)：FERA3 GM
所屬品牌：捷克TESCAN
產(chǎn)品型號(hào)：FERA3 GM
額定功率：按實(shí)際方案提供
所屬類別：TESCAN掃描電鏡
所屬用途：制樣設(shè)備
應(yīng)用領(lǐng)域：金屬

產(chǎn)品特性：TESCAN掃描電鏡FERA3 GM是一款由計(jì)算機(jī)完全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學(xué)性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點(diǎn).基于Windows?平臺(tái)的操作軟件提供了簡(jiǎn)單的電鏡操作和圖像采集,可以保存標(biāo)準(zhǔn)文件格式的圖片,可以對(duì)圖像進(jìn)行管理、處理和測(cè)量,實(shí)現(xiàn)了電鏡的自動(dòng)設(shè)置和許多其它自動(dòng)操作.

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產(chǎn)品特點(diǎn) 技術(shù)規(guī)格行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

分析潛力

高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率、高電流和低噪聲的圖像
選配的In-Beam二次電子探頭可獲取較高分辨率圖像
三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設(shè)計(jì)提供了多種工作模式和顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計(jì)
結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計(jì)軟件的實(shí)時(shí)電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化
成像速度快
低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）
In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品
全計(jì)算機(jī)化優(yōu)電動(dòng)載臺(tái)設(shè)計(jì)優(yōu)化了樣品操控
幾何設(shè)計(jì)更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）
由于使用了渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達(dá)到電鏡的工作真空，電子槍的真空由離子泵維持
自動(dòng)的電子光路設(shè)置和合軸
網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷軟件
3維電子束技術(shù)提供實(shí)時(shí)立體圖像
在低真空模式下樣品室真空可達(dá)到500Pa 用于觀測(cè)不導(dǎo)電樣品
獨(dú)特的離子差異泵（2個(gè)離子泵）使得離子散射效應(yīng)超低
聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器
聚焦離子束的標(biāo)配包括了電子束遮沒(méi)裝置和法拉第筒
高束流下較高的銑削速度和優(yōu)越的性能
FIB切割、信號(hào)采集、3維重構(gòu)（斷層攝影術(shù)），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化
成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件，圖像采集、存檔、處理和分析功能

相關(guān)應(yīng)用

服務(wù)體系

Service System

為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說(shuō)明，還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較，給用戶最中肯的購(gòu)買建議。

服務(wù)理念

安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi)，我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件；
售中服務(wù)

為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說(shuō)明，還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較，給用戶中肯的購(gòu)買建議。
售后服務(wù)

安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi)，我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件；