該產品可以通過多樣化的應用程序,不費吹飛之力即可獲得敏銳、清晰、高分辨率的掃描圖像。
通過之前的速度和精度,推動您研發進步并助力您的科學新發現—FX40將人工智能運用的很好,全自動化的過程能實現用戶納米級顯微鏡的需求。
額外的軸向自動激光校準、早期預警和故障自動系統、同步化信息提取和存儲，讓即便是未經原子力顯微鏡培訓的研究科學家們也可以輕松快速的獲得滿意的掃描結果。

納米級的顯微鏡,硬核級的科技進步??鼎力相助時代前沿的科技研發

采用AFM雙攝像頭系統能全自動化實時更新海量數據

智能的AFM

智能的原子力顯微鏡

Park FX只需鼠標一鍵操作，就能實現自動換針，以避免探針被污染或因操作不當而導致的探計損壞等問題,用戶還可以根據提示，選擇不同的探針類型,應用類型和使用信息等。

自動更換探針
通過自動換針方式，用戶可輕松進行自動換針。 利用裝有8個探針的盒子和磁控機制的便利性，用戶無需操作便可安裝探針。

自動識別掃碼
探針識別攝像頭可以加載探針芯片載體上的二維碼，提取并顯示每個可用探針的探針類型，應用類型和使用信息等全部相關信息。

自動激光校準
自動激光校準功能將激光定位到懸臂梁的適當位置，并進一步分別優化PSPD的垂直和橫向位置。用戶只需簡單點擊，移動X,Y和Z軸便可得到毫不失真的高清掃描圖。

雙攝像頭系統、自動校準探針、和樣品位置

Play Video 樣品攝像頭
樣品臺上至多可以同時放置四個不同量級的樣品。即便如此，樣品攝像頭也可以毫不費力地定位到相關位置進行準確掃描。

Play Video 探針識別攝像頭
探針識別系統可以幫助用戶搜索相關探針的全部信息（包括探針類型，應用類型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一鍵，Park FX40便可輕松助您選擇所需要的探針。

智能自動化??

FX40擁有智能視覺系統，能自動檢測探針是否正確定位。軟件界面通過定位加載探針的位置至納米級別，并在必要時生成錯誤狀態報告，

同時將這些數據與成千上萬個可能發生的模擬問題進行比較，以此不斷更新升級軟件。?

原子力顯微鏡中

快速準確的
非接觸模式

對于針尖樣品間距離，Park非接觸模式展現了其控制力，距離達到了亞納米級別。
Park FX40擁有快速且準確的非接觸模式。

探針著陸裝置——大限度保護樣品和探針
Park采用防碰撞傳感器裝置和連鎖軟件相結合，可以更好地保護針尖和AFM掃描器。通過算法編程，Z移動臺只能在針尖與樣品表面碰撞內升降，避免因探針與樣品相碰而產生損害，很大地提高了生產力和測量準確度。

自我診斷型環境傳感器
智能掃描器顯示并儲存傳感器的測量結果。傳感器主要測量基本的環境條件，如溫度，濕度，水平和振動。由此幫助用戶在不同環境條件下掃描圖像，為您篩選良好的環境指標。

探針安裝系統
用戶可以選擇手動或自動探針安裝功能，同時內置的智能系統會自動檢測并在用戶錯誤安裝探針時發出警告，從而有效提高測量準確度。

AFM體驗——專為FX設計的Park OS SmartScan
簡易單擊成像

1. 精要設置
自動探針檢測，自動激光校準
簡要的教學動畫分分鐘讓您學會如何進行樣品放置以及儀器成像設置。

2. 準確定位
定位樣品位置
AFM自動執行懸臂的頻率性掃描，接近樣品的Z移動臺, 然后自動聚焦，幫助您掃描任何您想要的區域。

3. 高清成像
自動探針檢測
完成定位之后，系統會設置合適的參數，連接懸臂并掃描樣品，直到為您掃出高解析度高分辨率的圖像。

Park FX40技術參數

XY掃描器

構造

? 單模塊并聯二維撓性掃描器
? 比撓性掃描器更好的對稱性

XY掃描范圍

? 100 µm x 100 µm
Z掃描器

構造

? 撓性導向掃描器
? 比撓性掃描器更好的對稱性

Z掃描范圍

? 15 µm
裝載樣品

裝載

? 磁性吸盤，可安放4個樣品載片
? FX多功能嵌入式樣品臺
驅動臺

Z位移臺行程范圍

? 22 mm （機動）
視野

視野

? 樣品同軸視野
? 與光學顯微鏡相同的視圖

CCD

? 510萬像素
? 像素大小：3.45 μm x 3.45 μm
原子力顯微鏡控制器

鎖相放大器

? 4通道集成 16Hz-5MHz

配件

自動換針

? 使用自動換針技術可以在不到一分鐘時間內更換

裝載探針

? 使用探針載體裝載