對于需要性能和易用性的多用戶實驗室而言，完整的SEM。

新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結(jié)合，為同類儀器提供完整的解決方案。

它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用。Prisma E成功獲得了成功的Quanta SEM。

良好的成像

多用戶實驗室需要顯微鏡在短時間內(nèi)生成具有相關(guān)數(shù)據(jù)的高質(zhì)量圖像。

可在各種光束能量和真空條件下提供良好的結(jié)果。在所有這些條件下，地形圖和成像圖都提供必要的樣本信息。通過同步采集，該信息可供隨后進(jìn)一步解釋和分析。

輕松導(dǎo)航

尋找感興趣的區(qū)域甚至找到樣品本身都是一項繁瑣的工作......但不是在Prisma E上。室內(nèi)導(dǎo)航相機（Nav-Cam）

提供樣品架的詳細(xì)照片，使其易于使用一個會話中的多個樣本并逐個導(dǎo)航到它們。在示例中，只需單擊它即可轉(zhuǎn)到感興趣的區(qū)域。

導(dǎo)航凸輪圖像與樣本一起旋轉(zhuǎn)，因此導(dǎo)航非常直觀。

樣本靈活性

今天的研究超越了傳統(tǒng)金屬和涂層樣品 - 非導(dǎo)電材料，大型或重型樣品，臟樣品甚至濕樣品都需要在微觀尺度上進(jìn)行研究。

Prisma E具有三種成像模式 - 高真空，低真空和ESEM™ - 適用于任何SEM的廣泛樣品。此外，Prisma E的腔室適合大樣品，

并配備110x110 mm 5軸電動平臺，傾斜范圍為105°，可以從各個角度觀察樣品。

支持分析

Prisma E的分析室支持對元素（EDX，WDS）和晶體學(xué)（EBSD）樣品數(shù)據(jù)的日益增長的需求，

該分析室支持多個EDX檢測器以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，

以確保所有技術(shù)的很好定位。得益于Prisma E的原位功能，即使在絕緣或高溫樣品上也能獲得可靠的分析結(jié)果。