輝光放電光譜儀GD-Profiler詳細介紹
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問題，即使是復雜的基體，提供高分別率和元素數量。60種元素（包括氣體元素）可以同時分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經驗。 它可以讓你快速得到深度方向關于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過程。在冶金工業中，化學成份的分析是對力學試驗的補充。其應用尤其適合于汽車，齒輪，風車等行業。

輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點
●RF射頻發生器- 標準配置，可進行元素總量分析，分析時間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術快上100倍；濺射率一般為3µm/min；
●實現從1nm至深達150µm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發可以同時分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設計的光源為導體、非導體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類型的物質提供了廣>的分析應用前景；
●多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●單色儀(選配件)可大大的提高儀器的靈活性，即能實現n+1通道分析；
●HDD 檢測器可進行>速而高靈敏的檢測，動態范圍達到10個量級；
●寬大的樣品室方便各類樣品的加載；
●激光指點器(CenterLite laser pointer，可用于準確加載樣品。